- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/205 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en utilisant la réflexion de la radiation par les matériaux en utilisant des caméras de diffraction
Détention brevets de la classe G01N 23/205
Brevets de cette classe: 109
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
| Proprétaire |
Total
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Cette classe
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|---|---|---|
| Rigaku Corporation | 379 |
19 |
| Cranfield University | 90 |
6 |
| Nottingham Trent University | 77 |
6 |
| California Institute of Technology | 3884 |
4 |
| Paul Scherrer Institut | 299 |
3 |
| Phase Focus Limited | 39 |
3 |
| KLA Corporation | 1223 |
3 |
| International Business Machines Corporation | 60644 |
2 |
| Japan Science and Technology Agency | 1564 |
2 |
| FEI Company | 851 |
2 |
| KLA-Tencor Corporation | 2574 |
2 |
| Sigray, Inc. | 68 |
2 |
| The University of Tokyo | 3903 |
2 |
| Xnovo Technology ApS | 10 |
2 |
| LM WP Patent Holding A/S | 262 |
2 |
| Halo X-Ray Technologies Limited | 6 |
2 |
| Halliburton Energy Services, Inc. | 20165 |
1 |
| The Regents of the University of California | 18943 |
1 |
| Centre National de La Recherche Scientifique | 9632 |
1 |
| Koninklijke Philips N.V. | 22975 |
1 |
| Autres propriétaires | 43 |